杭州afm图像是什么
- tem电镜样品
- 2024-05-12 12:10:14
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AFM(Atomic Force Microscopy,原子力显微镜)是一种高级的物理测量技术,它可以在纳米级别的高分辨率下观察和测量样品表面的原子级别的结构。与传统的扫描电子显微镜(SEM)不同,AFM能够通过测量样品与探针之间的原子力来确定表面的拓扑和化学成分。
AFM的工作原理基于牛顿第三定律,即AFM探针与样品之间的相互作用力与样品与探针之间的相互作用力大小相等、方向相反。AFM探针由多个纳米级碳纳米管组成,当与样品接触时,探针会在样品表面形成一个高灵敏度的触点。通过改变探针与样品之间的距离和角度,AFM可以获取样品表面的原子级别信息。
AFM成像时使用一种称为“扫描隧道显微镜”(STM)的技术。STM通过在样品表面扫描一个纳米级“沟渠”,以获取样品表面的原子级别信息。当扫描隧道显微镜(STM)扫描过样品表面时,探针会在样品表面形成一个高灵敏度的触点。通过改变探针与样品之间的距离和角度,AFM可以获取样品表面的原子级别信息。
AFM技术在材料科学、纳米科技、生物医学等领域具有广泛的应用前景。例如,在生物医学领域,AFM可以用于实时监测药物与细胞之间的相互作用,以提高药物的疗效和减少药物副作用。 AFM还可以用于研究纳米材料的结构、生物活性以及与生物分子的相互作用。
AFM(原子力显微镜)是一种高级的物理测量技术,它在纳米级别的高分辨率下观察和测量样品表面的原子级别的结构。 AFM技术具有广泛的应用前景,是未来科技领域的重要研究方向。
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